İplik, şerit ve fitillerde düzgünsüzlük (U%,CV%), ince kalın yer, neps adedi, periyodik hatalar, tüylülük ölçümü ve punta sayısı ve kalıcılığı gibi birçok parametrenin ölçümü için kullanılır. CFE500 modeli kısa elyaflar (pamuk ipliği vb.) için uygundur. 24 Bobin kapasiteli tam otomatik numune değiştirme özelliği ile ön plana çıkmaktadır.
Özellikler:
Ölçülen iplik numara aralığı: 4-12 bin tex; (1-80 bin tex opsiyonel)
Tüylülük testi için: 4-160 tex
Test hızı: 4, 8, 25, 50, 100, 200, 400, 800m/dakika
Test süresi: 0.5-50 dk
Spektografda dalga boyu aralığı: 1 cm – 3011 m (bir seferde maksimum test uzunluğu 10,000 m)
Spektograf kanalları:
Standart model için 86, Fine model için 172
Tüylülük parametresi: H değeri ve Standart sapma Sh demet iplik, iplik hataları ve spektro analiz (isteğe bağlı)
Giriş hava basıncı: 0.3-0.6 MPa
Güç tüketimi: ≤500 W
Bileşenler: dedektör, endüstriyel kontrol bilgisayarı, yazıcı, cağlık, masa sistemi. (opsiyonel)
Ürünler